sept
第4楼2014/01/03
不知道您那边主要做什么材料呢,如果几乎都是单质比如半导体Si啊,绝对不会有其他夹杂物,或者都是高聚物C偶尔O或F也不是关注的对象的话,那基本不需要做能谱了。
扫描配能谱主要强调微区的概念。比如你做钢铁或者其他金属材料,经过高温或者高应力等条件下,晶界出现析出物,SEM可以看到有析出物产生,而想确定是什么,那就需要用能谱做点、线、面分析了。甚至还需要做EBSD去确认结构等确定相。
当然你可以用光谱仪,但光谱仪通常是整个样品。你可以测出样品含Cr10%,而Cr是分布在晶界还是分布在晶内,与微区有关的,你就需要用SEM+EDS了。
如果更多信息,您可以直接给我留言,谢谢
ssssss0527
第10楼2014/02/23
之前不是听闻有micro-XRF么,分辨率在20um级别.(貌似还不是SR)(另,我们上课时,牛津仪器人讲说XRF理论上没有最小分析直径,只是其检测面积越小精度越差...)and 我最近看到便携手持式XRF检测金属时候detect limit可以达到1 ppm(感觉EDX在0.1%wt?)
另,楼上说电镜也可以配XRF?不晓得光源哪里来?
谢谢冯老师~