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为什么要用AFM-Raman、同区域成像和TERS

网络讲堂

2014/06/12

HORIBA拉曼－AFM技术最新进展

讲座时间：2014年9月22日 10：00

主讲人：刘仕锋
物理学硕士，2005年加入HORIBA Scientific，多年从事拉曼光谱仪应用支持工作，为用户提供应用实现、功能开拓、及仪器培训等应用支持。

【简介】

随着扫描探针隧道显微镜（SPM）在上世纪80年代的出现，纳米尺度成像成为了可能。该技术使材料表面各种物理特性的表征方法得以快速持续发展，然而如何实现无标记的化学组分表征仍是一项挑战。

在过去的几十年里，光学光谱已经成为纳米材料分析的有力工具，它为分子结构和化学组分分析提供了独特的方法。不过，这种方法的空间分辨率在很大程度上受限于光学衍射极限。于是，将两种技术联用成为一种极富吸引力的独特方法。本报告将会为大家介绍为什么要用AFM-Raman、同区域成像和TERS以及HORIBA提供的解决方案等内容。

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1、报名条件：只要您是仪器网注册用户均可报名参加。

2、报名并参会用户有机会获得100元京东卡一张哦~

3、报名截止时间：2014年9月22 日 9:30

4、报名参会：

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第1楼2014/06/13

9月份的现在就宣传了

0

leizk

第2楼2014/06/13

这也太早了点

0

网络讲堂

第3楼2014/06/16

提前占位吧！！要不又会满了，呵呵。

0

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