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如何判定2θ扫面图峰的强调太高、有严重的谱线重叠、信号太弱呢？

X射线荧光光谱仪（XRF）

  • 在建立曲线（土壤曲线）过程中，如果2θ扫面图峰的强调太高、有严重的谱线重叠、信号太弱等，可以修改仪器的测量条件，再扫描一个样品，作进一步优化实验。问题是选择哪个样品呢？
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  • sonne86400

    第1楼2014/10/15

    这个要根据自己的基体 做下优化 做到基体匹配 同时针对不同应用 不同元素选择干扰少的谱线做测量

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