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12月24日 用于XPS深度剖析的MAGCIS复合型离子源(赛默飞)

  • 网络讲堂
    2014/11/10
  • 私聊

XPS及其它能谱仪




  • 用于XPS深度剖析的MAGCIS复合型离子源



    讲座时间:2014年12月24日 14:00


    主讲人:葛青亲



    葛青亲博士,2013年毕业于复旦大学物理系凝聚态物理专业。博士期间从事复杂量子材料的光电子能谱研究。使用基于同步辐射与激光的电子能谱系统,研究对象涵盖高温超导,铁基超导,Mott绝缘体等关联体系,及人工异质界面和有机功能分子材料等低维体系的电子结构研究。拥有丰富的电子能谱系统操作、搭建和光电子能谱数据处理经验,博士期间多次赴美国、日本、德国、意大利等同步辐射中心进行交流合作,在Nature Physics、Physical Review X等国际一流杂志发表论文10余篇。现为赛默飞应用专家。




    【简介】




    XPS是极其表面敏感的技术手段,而我们所要研究的很多“表面”问题并不都是在样品表面10nm以内。如触摸屏表面涂层、低辐射玻璃表面镀膜以及太阳能电池、OLED等层状器件材料的研究,我们不仅仅要了解材料表面微米尺度的元素分布信息,还要关心层结构之间的界面性质。这时我们就需要结合离子束溅射剖析手段,将XPS测试手段从表面分析拓展到体内微米尺度。材料科学的发展要求我们在XPS深度剖析时使用一个性能优越的溅射离子源,以实现无机材料的高效剖析以及有机材料的无损溅射。

    在本次报告中,我们将和大家一起交流和分享赛默飞世尔科技有限公司的MAGCIS复合离子源的基本工作原理和实际应用案例。主要包括:高效XPS深度剖析在有机半导体器件、共混聚合物材料等领域的应用。


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    1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名参加。

    2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~

    3、报名截止时间:2014年12月24日 13:30

    4、报名参会:


    http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/1274





    5、报名及参会咨询:QQ群—231246773

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  • 秋月芙蓉

    第1楼2014/11/30

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