使用JADE拟和时出现的问题

因为我作的材料的特征峰超多，因此我在进行峰拟和的时候选定了一定的角度范围，但是重新进行拟和时，软件提示：Halted at iteration 0.这是怎么回事呢？
答：拟合是一个复杂的递进计算过程，如果数据量过大（峰数太多），或者递推不下去了，它都会停止。解决的办法是不用那么多峰来计算。

还有一个问题就是，在作晶粒的计算时，如果选择一个低角度的特征峰，一个最强特征峰或者是进行全谱的拟和计算出来的晶粒尺寸有什么不同？
答：不同的晶面计算出来的晶粒尺寸数据是不同的，有的文章中只使用一个峰的计算数据，有的文章中罗列出每个晶面的计算数据，也有的文章中使用所谓的平均晶粒尺寸，这个平均晶粒尺寸就是所有被拟合的峰的计算数据进行统计分析后得出的平均值。这三种数据，JADE都能做出来。

第三个问题就是我在资料中心下载的一个计算晶粒尺寸和微观应变的软件，他的计算原理和操作过程不是很清楚，那位高手演示一下。
答：这个程序是使用传统的方法，如果只计算晶粒尺寸，使用一个低角度的峰，也就是只有一个数据。就是上面提到的第一种情况，如果只计算微观应变，也只使用一个峰的数据，但是，是高角度的数据。如果需要同时计算它们两个，则使用同指数的二级衍射数据，如111和222，100配200等。这个程序在没有JADE的情况下，通过其它方法得到半高宽后就可以计算了。程序中按不同的拟合函数计算三种结果，最后取平均值。

补充一个问题：使用XRD计算出来的晶粒尺寸和SEM检测出来的晶粒尺寸两者之间是否有什么区别？？
答：应当说XRD计算出来的晶粒尺寸在纳米级，用普通的SEM是无法看到的，除非是特高级的场发射SEM，但可以使用TEM来测量。如材料中的GP区，是很微小的，使用XRD或TEM都可以得到数据。不过，要说明的一点是，看到的是颗粒大小而非晶粒大小。晶粒可以团聚成颗粒，颗粒还可以团聚成大颗粒，你看到的是颗粒。

在第三个问题中，那个标样的角度和半峰宽是怎么回事啊？是测试仪器的使用的标样的数据还是其它的啊？

我想问一下啊 用jade求结晶度时 在结晶度那项中有俩个比如 crystallinity:89(4.3)%,这里面哪个是结晶度啊 是4.3%还是89%啊 多谢帮忙啊，还有啊 我每次算出的都不一样，是和拟合有关嘛 谢谢