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AFS-3100

原子荧光光谱(AFS)

  • 我做锡时习惯再样品前走空白。可是这个走的和样品空白荧光强度差距很大是什么原因啊
  • 该帖子已被版主-李三疯加2积分,加2经验;加分理由:发帖
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  • 李三疯

    第1楼2014/12/08

    应助达人

    楼主走的这个空白跟样品空白是一样的东东吗,还是有所不同

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  • 孙志国

    第2楼2014/12/08

    是一样的

    “原文由李三疯发表:楼主走的这个空白跟样品空白是一样的东东吗,还是有所不同”

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  • 李三疯

    第3楼2014/12/09

    应助达人

    是仪器稳定时间不够么,同样的东东会有点偏差,相差很多的还没碰到

    孙志国(v2944084) 发表:是一样的

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  • wangjunyu

    第4楼2014/12/14

    应助工程师

    你是在进标准样品前,做标准空白,做完标准样品再测量样品空白吗

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  • lingyi509

    第6楼2014/12/27

    不是很理解楼主的问题,个人觉得楼主是不是在说标准空白与样品空白的差别。个人觉得标准空白与样品空白应该是相差不大的,样品空白会比标准空白高,如果样品空白比标准空白高很多,楼主得找找前处理是否存在污染。

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