新型测量颗粒粒度的方式-光阻原理

这个算不上什么新方法吧

算吧，目前行业内无论是英国马尔文，还是珠海的欧美克都是激光衍射法。都是通过公式来计算，而且折射率这个东西是参与计算的，要是不能确认好，差距是很大的呀。

能介绍一下应用的领域，有何优缺点吗

有没有现成的仪器，具体厂家是什么。从原理上讲容易理解，但实际应用又是另外一回事。使用限制有哪些呢？

测试范围不大，据我了解也就0.1um-5000um之间

范围在0.1um-5000um 范围是挺宽的，就是测不了纳米级别

应用的话，基本上只要涉及颗粒的测试都可以用。
优势就是不需要输入材料的折射率，也就是说，材料不收品种的限制。某些自己合成的颗粒，折射率是查不到，而且目前来说都没有可以直接测量颗粒折射率的设备，只能靠估计，测试结果固然不准确。还有比如混合颗粒，像三基色荧光粉，目前衍射发是通过取三种材料的折射率平均值来测，这样测出来只有一个峰。但实际上看来，其实三种材料实际上额应该会有三个峰值的才对，用光阻法就可以很好的体现出来。
缺点也很明显，局限于激光光束的大小，目前测不了纳米级别的。

目前的话，以色列有家企业在做，品牌是Donnor。至于仪器的限制，主要是不能测纳米级别，其他应该没什么限制。