jack510070
第3楼2015/05/12
摄谱法是用感光片放置于光栅色散系统(或棱镜色散系统)的出射焦平面上,从而记录光谱信息的方法,早期光电光谱仪技术尚未普及时常用这种方法。为了进行定量分析,就必须读取胶片上的谱线强度,显然谱线越黑,其强度越大。通常用测微光度计,这是一种显微光度计,用于测量胶片上一个很小区域内的黑度,从而获得谱线的最大强度。
光栅或者棱镜光谱仪在出射角平面上获得的其实是狭缝的多色像,其宽度略大于狭缝。狭缝越宽,当然像的总光通量越大,但是狭缝的像也就越宽,其亮度(单位面积上的光通量)不会因此而提高。
后来用到光电倍增管,将它放置在位于出射焦平面的出射狭缝之后,该狭缝宽度近似于入射狭缝。由于PMT读取的是整条谱线的光通量,因此显然狭缝越宽,读取的信号也就越大。
再后来用到CCD这类器件,形成所谓光电摄谱仪,情况与胶片方法相同,谱线强度不会因为狭缝宽度成正比了。
envirend
第4楼2015/05/12
谢谢老师的精彩解释,了解了相关发展历史,同时解答了自己的疑惑。
《仪器分析》(第三版)朱老师编著 显示,光电倍增管、阵列检测器(CID CCD等是否属于这个阵列检测器呢)属于光电法。