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金属样品的测试

生于八零年代

2015/11/19

对于合金中微量成分的测试，大家一般会遇到那些问题？
背景过高导致谱线干扰；基质的记忆效应明显，影响后续其他样的测试……
大家来谈谈吧！

分
该帖子已被版主-tang566加2积分，加2经验;加分理由:话题

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依风1986

第1楼2015/11/19

应助达人

比较常见的就是金属中铁元素对铅的干扰问题，这个比较普遍

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生于八零年代

第2楼2015/11/19

应助达人

金属基质谱线多，背景大时谱线的强度也大，经常会影响此谱线附近的待测元素的谱线。铜对铅见过很多。
依风1986(xurunjiao5339) 发表:比较常见的就是金属中铁元素对铅的干扰问题，这个比较普遍

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秋月芙蓉

第3楼2015/11/20

不知道用标准加入法能否完善之

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千层峰

第4楼2015/11/20

如果是PE的，试试msf

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依风1986

第5楼2015/11/21

应助达人

可能不一定能解决，谱线的干扰
秋月芙蓉(ljhciq) 发表:不知道用标准加入法能否完善之

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依风1986

第6楼2015/11/22

应助达人

MSF与FACT还是有区别的！
千层峰(jxyan) 发表:如果是PE的，试试msf

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千层峰

第7楼2015/11/22

是的，瓦里安的Fact与PE 的IEC类似
依风1986(xurunjiao5339)发表: MSF与FACT还是有区别的！

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poursuivre

第8楼2015/11/23

据说耶拿的谱线分辨率高一些，当然可以试试ICP-MS

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生于八零年代

第9楼2015/11/23

应助达人

TDS太高，上ICP-MS必须稀释，而且也同样污染仪器。
poursuivre(shagege) 发表:据说耶拿的谱线分辨率高一些，当然可以试试ICP-MS

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dmy320

第10楼2015/11/24

我们用加标来减少干扰，完全消除不可能的，只能尽量测准点。

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