用XRD测试应力，重复性很差，同一点三次数据出现了100MPa、150MPa和300MPa

应助达人

重复性差是因为光路没有调好， 不同角度的x光照射地方不同会产生角度偏差。
测应力需要准确测定晶胞参数，如果有样品高度引起的峰偏，晶胞参数自然就测不准了

应助达人

首先最好把样品做成平的，这样方便放到到仪器圆中心。
如果样品表面不平，则需要用激光定位系统精确地把待测位置定位到仪器圆中心。

样品是平整的，也用激光定位了，我重复测量方式是什么都不变，试样固定在载物台上，测完一遍接着再，应该所有可能的条件都没有变。我用同一种方法测标样重复性就很好。这种想象与材料组织结构有关吗？

应助达人

我觉得是X光没有打到激光的位置
最好把仪器用荧光板检查一下X光打在样品上的位置，在低角高角都跟激光位置相互对比一下
你的残余应力标样是什么？ 残余应力为零的可不算标样
没有 组织结构 的说法 只有 织构 的说法
样品的加工会同时产生残余应力和织构， 但不能说 残余应力测不准是织构造成的。
织构检测的是各个衍射矢量方向的峰强变化； 残余应力检测的是各个衍射矢量方向的峰位变化。

感谢指导！标样是零应力刚玉。测试前激光定位。
仪器应该没有问题，测试其他的样品重复性很好，就是测我需要测的样品重复性差。
使用化学方法除去样品中的金属元素后，再测量，重复性变的好很多，所以我觉得与样品本身有关，就是说不出原因。

晶胞参数是怎么测定的？
如果内部有 共格 的两相，如何分别测定？