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XPS分析 关于碳元素如何校准

XPS及其它能谱仪

  • 我的试样为金属氧化物并且表面本身含有碳,我查到一般对于其他元素的分析需要用C来进行校准,但如果对C进行分析需要如何对C峰本身进行校准呢,另外,应该如何区分污染碳和表面本身存在的碳呢。麻烦哪位能够帮我解答一下,非常感谢!!!
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  • p3077480

    第1楼2016/01/21

    哪位可以帮我回答一下,特别感谢

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  • hxjustc

    第2楼2016/03/04

    你好:你的样品金属氧化物应该是因为导电性不好导致荷电效应,所以需要用C 1s内标消除荷电效应。一般情况,将表面C 1s位置校准到285.0 eV或者284.8 eV。但是有些情况需要特殊考虑。例如有的用户样品制备过程会用到配体增加纳米粒子的分散性,配体中的C 1s的位置就不在285 eV,有些可能在289 eV。你给出的样品信息不全面,不能准确回答你的问题,仅供参考!

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  • vivianily

    第3楼2016/03/11

    样品表面含碳或者样品本身含碳,只要碳的形式不变,依然可以使用C1S校正到284.8eV。除非你的样品里的碳元素和其他样品形成了配合物,使电子结合能发生了变化,比如碳化物中的C,在此种情况下就不能使用C校正了,你的样品照你说的情况是可以用C校正到284.8的。有些C不能用的情况,如果氧元素没有形成氧化物,可以选择O元素进行校正。

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