岛津EDX-LE如何检测含镀Ag框架中的Cl含量

应助达人

除非有完全匹配的基体做曲线，否则要测准只能上IC了。

应助达人

横坐标在2.6那个附近的峰，不是ClKa，而是AgLL峰，3.0keV的地方的峰，是AgLa、AgLb之类的，也不是ArKa和ArKb。
换言之，这里Cl受到了AgLL峰的干扰。看你镀Ag件的厚度了，厚度越大，那么Ag的信号强度越强，对Cl的干扰就越大。这里就是个重叠干扰，很难判定Cl有没有的。

单从你的描述来分析如下：
1、Ag元素的 AgLa 能量值为2.98KeV， 而需要检测的Cl元素的 ClKa能量值为2.62KeV。
Ag的AgLa与ClKa二者能量值很接近。 所以当样品中含Ag的时候 ，会存在对Cl的检测影响。

2、另从你发的谱图上来看，你这个样品扫描出来的Arka 很高。会出现ArKa高的原因：（1）仪器硬件所致，（2）所测试样品不是整体，或者太小，空气中Ar被激发。

应助达人

呃，影响Cl的是AgLL线，不是AgLa，就按照你写的能量，两者之间差360eV，现在主流的EDXRF分辨率都会远优于此，基本上都在220eV以下了，不存在AgLa干扰Cl的问题。这里是镀Ag件，所以Ag信号强，AgLL峰不可忽略。
Ar来自于空气没有错，但是样品小Ar就会被激发这个观点不赞同，样品大，表面空气还是在的，除非你抽真空。
抱歉，这是技术问题的讨论，所以我说的不怎么委婉，因为是公众论坛的技术专家，我们需要给新手尽可能正确的内容。

你说的很委婉 ，许你 把AgLL线 能量值说下，指教。
（两者之间差360eV，现在主流的EDXRF分辨率都会远优于此，基本上都在220eV以下了，不存在AgLa干扰Cl的问题）
从哪里看到，有谁与你说过，是AgLa与ClKa能量值简单的相减得0.36KeV。
另外请正确写明探测器分辨率单位KeV(如图中红色区域) , 毕竟如你说的 ：需要给新手尽可能正确的内容.

应助达人

哦，补上AMPTEK的检测器的资料，从中可以明显看到XR100的分辨率在5.9 keV处，大约为145-225 eV。

选两端 避开相互间的干扰