峰的强度跟物质含量也是有一定关系的吧,峰的强度与样品的百分比含量、晶体的结晶程度、晶体的类型、晶面的晶体学指数、机器光阑的设置等都有关。
毕竟X射线只能穿透浅层,如果样品分布不均匀的话结果也是有问题的吧。
iangie(iangie) 发表:(111)/(220)的强度比表示越大,表示该物质表面的(111)晶面越丰富,
XRD 是体分析bulk analysis 跟表面没得关系。
111 峰强越高 只能表明 样品有111方向的织构(择优取向) 。
至于是怎么得到这样织构的,就看你如何解释了。
一般要结合SEM分析 有可能是SEM下观察到 晶粒太大,又呈现片状或针状。
在固定制样压力的情况下,大部分的晶粒都平躺排列。
但是用这种解释一系列样品的(111)/(220)的强度变化则是不行的,因为你没有办法证明每次制样的压力相同。除非你使用了XRD自动制样机。