【讨论】用Tapping Mode做不同材料的样品------

欢迎，欢迎，写详细点，给你加精

帅哥是干吗的啊，什么都做，是某个分析中心的测试人员吗？

科学院里打工

工作中主要管理AFM，做了些样，但操作水平和相关知识一般，希望和各位高手交流
高手请进

哈，关键问题你没有看到，写多点吧，写详细点，加分[/quote]

一看就一高手阿，把经验写详细点啊，其他经验也可以阿，向你学习。

高手不敢当，版主才是真高手，还有些高手隐藏着呢，本人只想抛砖引玉，得到各位的指导，达到交流的目的；在这儿班门弄斧了，请包涵

对DI的仪器比较熟悉，但有些功能没有完全开发，需要学习交流。
1.硬盘材料需要调很小的I gain　和 P gain；
我觉得在Tapping Mode自动下针后的setpoint就可以，将I gain　和 P gain调到0.3左右，当然原则上要求P gain 比 I gain 大20%左右

2.PNA,DNA需要增加setpoint来减小针尖样品间的作用力（大气环境）
Tapping Mode调完频率自动下针后的setpoint有点小（力太大），用向右箭头增加三到五次，只要针尖能跟踪样品表面，力越小越好，然后再调节两个gain值和rate

3.纳米颗粒，图等形貌特征比较明显的样却不能用太小的力，力太小不能完全扫描颗粒特征，尽量增加gain值以减少拖尾


其它模式（Contact Mode）或不同的环境（如溶液里的成像）也可以交流一下，例如我发现在Contact mode时，调节I gain　和 P gain对图像质量好像没有太大影响，请大家交流

已经加精，欢迎继续交流（继续加分），^_^

真高手也!!
我用的是MI的AFM,前一段时间做了一些contact mode
样品是细菌，我感觉把P I调大 ，大约4-5左右的deflection效果非常好。
随便说说，大家讨论

表征纳米颗粒（特别是50-120nm）的形貌时，尽量调最大的I gain 和P gain，可以很明显的消除拖尾现象，对于噪音不太明显；
而在表征其它材料，如自组装膜时，I gain 和P gain 太大会有明显噪音，然后稍微降低两个gain值，直至噪音消失