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请问XRD的Z样品台作用机理和示意图

  • Ins_1f970056
    2022/11/04
    • 私聊

X射线衍射仪（XRD）

  • 各位老师我在测试薄膜样品的时候之前请同学帮我测试的时候发现测试的结果和我后来送出去测的结果不一样，后来问了发现之前同学帮我测的时候他用的是z轴样品台测的，就想问一下各位老师z轴样品台的作用是什么？，为什么会差别这么大？还有想问一下各位老师像那种有基底的膜怎么测试比较好呢？下面是两次测试的xrd图
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  • iangie

    第1楼2022/11/09

    应助达人

    Z轴样品台是方便测不同高度的块材的
    如果你的样品是粉末，用Z轴样品台测之前必须做样品高度对中： 保证X光能照到样品。
    样品高度偏离测角圆中心会造成衍射峰偏移，严重的偏移甚至导致X光照不到样品。

    如此不同的两个XRD数据，必然有一次测量是错误的。

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  • Ins_1f970056

    第2楼2022/11/09

    我这种材料是氧化石墨烯抽滤到膜上的，所以我想问一下对于这种材质用Z轴样品台可以测到膜上，不测到基底上面吗？

    iangie(iangie) 发表:Z轴样品台是方便测不同高度的块材的如果你的样品是粉末，用Z轴样品台测之前必须做样品高度对中： 保证X光能照到样品。样品高度偏离测角圆中心会造成衍射峰偏移，严重的偏移甚至导致X光照不到样品。如此不同的两个XRD数据，必然有一次测量是错误的。

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  • iangie

    第3楼2022/11/11

    应助达人

    如果你的样品是coating，那用Z轴样品台调整高度是很必要的。

    固定入射角Omega到0.5~1 deg（取决于你的coating厚度），用2theta扫描才能减弱substract的diffraction信号。

    不过Graphene Oxide的吸收很小， 要完全避免substrate信号几乎是不可能的。

    Ins_1f970056(Ins_1f970056) 发表:我这种材料是氧化石墨烯抽滤到膜上的，所以我想问一下对于这种材质用Z轴样品台可以测到膜上，不测到基底上面吗？

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