表界面物性测试
123
第1楼2023/05/30
会改变，抛光后使用XRD（X射线衍射）测得的残余应力值会受到抛光对界面的影响而产生一定的误差。抛光后会产生新的表面缺陷和形貌改变，这些改变会导致X射线的衍射角度发生微小的变化，从而影响测得的残余应力值
JOE HUI
第2楼2023/05/30
有影响，机械抛光或研磨会改变表面和亚表面的残余应力分布，根据经验，此过程之后应进行电解抛光处理，以消除前述影响。
品牌合作伙伴
执行举报
赛默飞实验室产品焕新计划有奖调研！
【七月征文】不一YOUNG实验“猿”
报名开启：ICS2024第十三届光谱网络会议！
推荐收藏！盘点中药材及饮片检测解决方案
