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Spot View/Spot View-FL亚微米级表面检测系统软硬件

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    2024/05/20
  • 私聊

红外光谱(IR)

  • Spot View/Spot View-FL系统是一款高精度的表面检测设备,专为半导体、微电子和纳米材料等领域设计。其硬件包括高分辨率的光学成像系统、精密的样品台和先进的图像处理模块。软件方面,系统配备了用户友好的图形界面,提供多种图像分析工具,如颗粒计数、尺寸测量和缺陷分类,以及自动化的检测和报告功能。
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