【求助】请教关于Si的ICP-MS 检测，达人请指教，谢谢！

歪门邪道读鸟书 2007/05/18

[quote]原文由 [B]szyf983[/B] 发表: P的背景20ppb？！那你是做什么样品阿？怎么这么高？什么仪器？ 我以前用cool plasma 作，背景都要控制在500ppt以下呢，我作半导体产业洁净室的空气污染。一般浓度含量也就10ppb以下的样品[/quote] 做P用冷焰发挥不了优势啊，电离效率太低了，背景是低了，但是灵敏度也低。还是用hot plasma 加反应池效果会好一些。 你的是什么样品，不要使用硝酸介质，避开NO的干扰，可能会好些。 我们做过水里的P，几个ppb的线性还可以。标准模式下做的，

cafu2000 2007/05/18

我做的是生物样品啊． 不知冷焰测p的灵敏度怎样？ 背景降到５００ppt，是质量数３１？ [quote]原文由 [B]szyf983[/B] 发表: P的背景20ppb？！那你是做什么样品阿？怎么这么高？什么仪器？ 我以前用cool plasma 作，背景都要控制在500ppt以下呢，我作半导体产业洁净室的空气污染。一般浓度含量也就10ppb以下的样品[/quote]

Rainwolf_Q 2007/05/18

什么性质的样品？水样浓缩后用硅钼蓝配合紫外不行吗？好像没有必要用[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url]啊。固体样品就更好说了，先用碱提取再测，需要注意的是尽量采用PP材料的器皿。

rofepeng 2007/05/18

首先必须避免污染，并且用99.999%的Ar. 在常规模式下，Si28的BEC大约为50ppb，DL<1ppb。P在常规模式下则非常差。 要达到更好的效果，Si、P均用H2为ORS气体。

molybdenum 2007/05/19

[quote]原文由 [B]szyf983[/B] 发表: 最近碰到一些样品需要检测Si，但是我连基本的校准曲线作的都很差， 麻烦各位达人请指教：我使用的是7500cs。 应该使用什么手法做检测呢？ PS， 有人做过磷（P）的碰撞反应池检测吗？是检测31还是47呢？ 如果用冷激光模式，能够达到多大的检出限？ 以上两个元素检测非常的让我头痛，任何有想法的大家请积极发言，我也好集思广益。谢谢了。[/quote] 不知道你是什么样品，如果是硅酸盐类样品，消解的时候用到HF，生成的SiF4是挥发性的，可能有损失，这个可能是校准曲线作的很差主要原因吧。好像用碱熔可以避免这个问题，理论上应该是可行的。 测P的话应该问题不大，可以将所有的干扰元素检测一下，排除叠加的部分再试试。