原子力显微镜(Atomic Force Microscope,简称AFM)是一种可以实现表面纳米级观测的扫描探针显微镜。它通过一个极其细小的探针与样品表面进行物理互动,探针固定在一个微小的悬臂上,当探针扫描样品表面时,悬臂会因探针与表面之间的原子间力(如范德瓦尔斯力、静电力或毛细力)而发生偏转或振动。这些变化会被高灵敏度传感器记录下来,并转换成计算机可处理的信息,进而构建出样品表面的高分辨率三维图像。AFM不仅适用于导电材料,也能用于非导电物质的研究,在纳米技术、材料科学和生物医学等多个领域中发挥着重要作用。