使用MM-16椭圆偏振光谱仪表征并五苯有机薄膜晶体管

2016/09/22   下载量： 7 次

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检测样本 半导体材料
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Spectroscopic Ellipsometry based on the liquid crystal devices is an excellent technique for the highly accurate characterization of organic semiconductor in OTFTs device in the visible range.

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Spectroscopic Ellipsometry based on the liquid crystal devices is an excellent technique for the highly accurate characterization of organic semiconductor in OTFTs device in the visible range.


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文献贡献者

HORIBA（中国）
白金会员 丨 第22年
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