型号: | FT9200系列 |
产地: | 日本 |
品牌: | 日立 |
评分: |
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仪器简介:
是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。是一个本公司膜厚仪FT系列的标准机型。有适用线路板用的FT9250、有适用大型线路板用的FT9255、可以对应广泛的应用程序。
技术参数:
可测量元素:原子序数22(Ti)~92(U)
X射线源:小型空气冷却型X射线管球 管电压:45kV 管电流:1mA Be窗
滤波器:一次滤波器:Al-自动切换 二次滤波器:Co-自动切换
检测器:比例计数管
准直器:方型:0.2×0.05mm 0.05×0.02mm
圆形:Φ0.1mm Φ0.2mm Φ0.3mm
安全性能:装有样品门联锁、防冲撞的功能
样品图像对焦方式:激光自动对焦
样品观察:CCD固定倍率、卤素灯照明 选购项:倍率切换(最大130倍)
修正功能:底材修正、已知样品修正、人工输入修正
测量报告书制作:配备MS-EXCEL® MS-WORD®(使用宏支持自动制作测量报告书) 测量能谱与样品图像保存功能
主要特点:
1. 能够测量无铅焊锡
配备了薄膜FP法,可以同时测量Sn-Ag,Sn-Bi,Sn-Cu等,无铅焊锡的镀层后与成份
2. 搭载中心搜索软件
通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置。
3. 拥有防冲功能
4. 搭载激光对焦系统
5. 即时生成测量报告的便捷性
运用搭载的Microsoft Word® Excel® 可以简单轻松得到制作报告。
6. 拥有自动测量软件以及中心搜索软件
7. 搭载了薄膜FP法软件
8. 自动对焦功能
配备激光自动对焦功能,能够准确对焦,提高测量效率。
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