X射线荧光镀层膜厚分析仪FT150 -硬件概要-

2016/04/25   下载量： 5 次

方案摘要

方案下载
应用领域
检测样本
检测项目
参考标准 GB/T16921-2005

X射线荧光镀层厚度测量仪作为一种可高速、简便地对电子零件等的镀层，半导体工艺中的薄膜，以及汽车部件中各类工业产品表皮膜等的膜厚进行管理的仪器而被广泛应用。 　FT150利用多毛细管所产生的照射直径为30 μm的高强度X射线光束，最适于测量微小连接器、柔性电路板及导线架等微小零件及超薄镀层。

方案下载
配置单
上一篇 有机薄膜太阳能电池材料P3HT的TG-MS测定
下一篇 X射线荧光镀层膜厚分析仪FT150 -软件概要-

文献贡献者

日立仪器（上海）有限公司
金牌会员 丨 第15年
查看全部资料
相关仪器 更多
相关方案
更多
当前位置： 日立仪器 方案 X射线荧光镀层膜厚分析仪FT150 -硬件概要-

关注

拨打电话

留言咨询