inTEST 热流仪电源管理芯片高低温冲击测试

2021/08/10   下载量： 0 次

方案摘要

方案下载
应用领域 电子/电气
检测样本 电子元器件产品
检测项目
参考标准 inTEST,热流仪,电源管理芯片,高低温冲击测试

上海伯东 inTEST 热流仪电源管理芯片高低温冲击测试,电源管理芯片由于多是在狭小空间内工作, 散热的条件不好, 大多是在高温的环境中长时间工作, 电源芯片经常经历快速升温的情况, 甚至经历在电压不稳时快速变温的情况, 所以电源芯片在出厂时需要经过测试芯片在快速变温过程中的稳定性, 这点十分重要. 上海伯东美国 inTEST ThermoStream 高低温冲击测试机提供 -100°C 至 +225°C 快速温度冲击范围, 满足各类电源管理芯片的高低温冲击测试.

方案下载
配置单
方案详情


inTEST 热流仪电源管理芯片高低温冲击测试


        电源管理芯片由于多是在狭小空间内工作, 散热的条件不好, 大多是在高温的环境中长时间工作, 电源芯片经常经历快速升温的情况, 甚至经历在电压不稳时快速变温的情况, 所以电源芯片在出厂时需要经过测试芯片在快速变温过程中的稳定性, 这点十分重要. 上海伯东美国 inTEST  ThermoStream 高低温冲击测试机提供 -100°C 至 +225°C 快速温度冲击范围, 满足各类电源管理芯片的高低温冲击测试.



   在电源管理芯片可靠性测试方面, 上海伯东美国 inTEST ThermoStream ATS 系列热流仪有着不同于传统高低温箱的独特优势:


1. 变温速率快, 每秒快速升温 / 降温18°C
2. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证
3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度
4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件
5. 满足研发和大规模量产要求
6. 可与爱德万 advantest, 泰瑞达 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等各类测试仪联用.
 

inTEST 热销型号

ATS-545

ATS-710E

ATS-535

温度范围 °C

-75 至 + 225

-75至+225

-60 至 +225

变温速率

-55 至 +125°C 约 10 S
+125 至 -55°C 约 10 S

-55 至 +125°C 约 10 s
+125 至 -55°C 约 10 s

-40至+ 125°C < 12 s
+125至-40°C < 40 s

空压机

额外另配

额外另配

内部集成空压机

控制方式

旋钮式

触摸屏

旋钮式

气体流量 scfm

4 至 18

4 至 18

5

温度显示和分辨率

+/- 0.1°C

温度精度

1.0°C（根据  NIST 标准校准时）


       电源管理芯片高低温冲击测试案例: 应用于电子消费品行业的电源芯片, 下图为实际的被测电源芯片, 焊在 PCB 板上. 需要在通电的情况下进行温度测试.
测试温度范围﹣60℃ - 150℃, 进行 12组不同形式的循环温度设定.
使用型号: inTEST ATS-545 




       电源管理芯片高低温冲击测试案例: 应用于汽车电子行业的电源管理芯片, 在电测试时, 同时搭配测试仪, 设定不同的温度数值, 检查不同温度下电源芯片各项功能是否正常. 通过使用上海伯东美国 inTEST 热流仪, 大幅提高工作效率, 并能及时评估研发过程中的潜在问题.
测试温度范围: -40℃ - 80 ℃
使用型号: inTEST ATS-710E 




电源管理芯片高低温冲击测试案例: 应用于电力系统的电源管理芯片, 因客户研发场地受限, 无法使用空压机, 最终选用 ATS-535 全球唯一内部集成空压机的高低温冲击机进行测试.
测试温度范围: -60℃ - 150 ℃
使用型号: inTEST ATS-535




电源管理芯片 Power Management Integrated Circuits 是在电子设备系统中担负起对电能的变换, 分配, 检测及其他电能管理职责的芯片. 在电源的设计中, 需要用到各种形式的管理芯片, 在电测试下, 随着电源温度的变化, 需要保证芯片的正常运转, 一般芯片的温度越高, 可靠度越低, 失效率就会变高. 因此在芯片的设计之初就要考虑温度问题.

70年代成立至今, 美国 inTEST Thermal Solutions 超过 50 年的研发生产经验, 经过多年市场实践的高可靠性和稳定性,  满足各类电子芯片的测试要求. inTEST 已收购 Thermonics 和 Temptronic. 上海伯东是美国 inTEST 中国总代理.

上一篇 上海伯东 Gel-Pak 产品在 VCSEL 产品上的应用
下一篇 上海伯东美国 inTEST 热流仪电源管理芯片高低温冲击测试

文献贡献者

伯东公司德国普发真空pfeiffer
金牌会员 丨 第17年
查看全部资料
相关仪器 更多
相关方案
更多
当前位置： 上海伯东 方案 inTEST 热流仪电源管理芯片高低温冲击测试

关注

拨打电话

留言咨询