方案摘要
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Stylus-based surface profiling is a standard technique for accurate, repeatable surface shape, topography and step height measurement in applications ranging from semiconductor R&D to solar cell QC.
双焦面实时超高分辨系统Bruker3DVutura
多功能双光子成像平台Bruker2pplus
高品质双光子成像系统BrukerInvestigator
场扫描共聚焦成像系统BrukerOpterra II
布鲁克透射电镜专用原位纳米力学系统PI 95
布鲁克电镜专用原位纳米力学测试系统PI 88
布鲁克电镜专用原位纳米力学系统 PI 85L
布鲁克高精度纳米力学测试系统TI Premier
布鲁克高精度纳米力学测试系统TI 980
布鲁克三维光学显微镜Contour Elite
摩擦磨损试验机UMT-TriboLab
布鲁克原子力显微镜Dimension FastScan
探针式表面轮廓仪DektakXT
光学轮廓仪NPFLEX 3D
扫描探针显微镜系统Dimension Edge
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