方案摘要
方案下载应用领域 | 材料 |
检测样本 | 石墨烯 |
检测项目 | |
参考标准 | ISO-22007-2 |
导热系数与热但对于这些稳态测试方法而言,对于样品本身尺寸及厚度都有一定要求的限制。 近年来由于科技发展以及3C产品的普及,市场以开发高导热材料的需求大量增加,瞬态测试的技术快速发展,许多瞬态技术在导热材料中得到了应用。
导热系数与热扩散系数是材料的重要热物理性质参数。 聚合物材料的导热系数一般在0.2~1W/mK范围内。 对于这种低导热材料的测试,传统最常采用的测试方法为稳态法,如稳态热平板法(Guarded Hot Plate)和稳态热流计法(Heat Flow Meter),对应的标准方法有ASTM C177、C518、E1530、D5470等。 但对于这些稳态测试方法而言,对于样品本身尺寸及厚度都有一定要求的限制,测试一个温度点下的导热系数通常也需花费至少30分钟以上。 近年来由于科技发展以及3C产品的普及,市场以开发高导热材料的需求大量增加,瞬态测试的技术快速发展,许多瞬态技术在导热材料中得到了应用,如ASTM E1461、D5930,为了规范材料瞬态测试方法, ISO提出了多个瞬态标准测试方法ISO 22007,按照测试参数将ISO标准分为以下几类:
(1) 导热系数与热扩散系数
瞬态平面热源法(Hot Disk) – ISO 22007 – 2
(2) 热扩散系数
温度波分析法 – ISO 22007 – 3 雷射闪光法 – ISO 22007 – 4
在ISO 22007中对多个瞬态测试方法订定了规范,本篇将针对ISO 22007 – 2 瞬态平面热源法(Hot Disk)做基本的介绍。
在ISO 22007 – 2 明订了测试的规范:
1. Thermal Conductivity:0.01 ~ 500 W/mK
2. Thermal Diffiusivity:0.1 ~ 100 mm2/s
3. Specific Heat Capacity:Up to 5 MJ/m3K
4. Temperature range:50K ~ 1000K
随着技术的开发与进步,目前Hot Disk已能做到:
1. Thermal Conductivity:0.005 ~ 1800 W/mK
2. Thermal Diffiusivity:0.01 ~ 1200 mm2/s
3. Specific Heat Capacity:Up to 5 MJ/m3K
4. Temperature range:-235 ~ 1000℃
因应各式不同高低导热材料的测试应用,Hot Disk在测试模块分为了八大类:
(1) Isotropic (量测范围: 0.03W/mK ~ 500W/mK)
(2) Anisotropic (量测范围: 0.005W/mK ~ 1500W/mK)
(3) Slab (量测范围: 1W/mK ~ 1500W/mK)
(4) Thin film (量测范围: 0.01W/mK ~ 5W/mK)
(5) Single side (量测范围: 0.1W/mK ~ 500W/mK)
(6) One-dimentional (量测范围: 1W/mK ~ 1800W/mK)
(7) Low-density/High insulating (量测范围: 0.01W/mK ~ 0.5W/mK)
(8) Specific Heat Capacity Module (量测范围: Up to 5MJ/m3K)
从极低导热(如:气凝胶Aerogel )到高导热材料(如:石墨片Graphite.石墨烯Graphene),不同型态的样品(块材.薄膜.液体.粉体.膏体...),不同材料的测试应用(等向性.异方向性.比热...) 都得以用Hot Disk来量测。
举例来说:
(1)在一般测试比热的标准方法,通常都是采用热示差扫描卡量计(DSC)来进行量测,但在现今的客户应用中,有些材料是属于多层复合材料且不适合用于裁切的(如锂电池),因此在DSC比热的量测上就显得困难。 Hot Disk在比热的测试上开发最新的Sample holder,得以因应体积较大的材料比热测试,同时也使得测量时的热均匀性更佳。
(2)客户应用为高分子熔融状态下的热传导系数量测,对于典型接触式的热传导设备而言,在测试上也具有困难性。 在这个部分,Hot Disk也与加拿大热传导设备大厂Thermtest合作开发出专门针对这种测试应用的套件,得以解决过往客户对于高分子熔融状态热传导量测的需求。
三种热分析仪器测试玻璃转移温度Tg的原理与差异-DSC/TMA/DMA测试PMMA为例
利用X-ray无破坏检测PCB上的通孔
绿光雷射剥离加工机应用在PI(聚酰亚胺)膜加工的3大优势
相关产品
HITACHI EA1400 X射线荧光光谱仪
Vanta Element Series 手持式XRF荧光光谱仪
VANTA M series 手持式XRF荧光光谱仪
JEOL DART-TOF 大气游离高解析质谱仪
JEOL JMS-T2000GC 高解析气相层析飞行时间质谱仪
JEOL TG-MS 热重质谱仪
HITACHI DSC 7020 差示扫描量热仪
HITACHI DMA7100 动态机械黏弹分析仪
TPPT可程控机器手臂触控面板测试仪
OptoFidelity FRM120 影像播放速率测试仪
GE Nanomex 奈米级超高分辨率检测系统
BH X|aminer 微焦点检测系统
JEOL JMS-S3000 MALDI-TOF 雷射辅助基质离子螺旋飞行质谱仪
HITACHI DSC 7000X 差示扫描量热仪
BH Microme|x NEO 160 穿透式影像检测系统
关注
拨打电话
留言咨询