方案摘要
方案下载| 应用领域 | 电子/电气 |
| 检测样本 | 电子元器件产品 |
| 检测项目 | |
| 参考标准 | 双折射测量仪，位相差测量仪，内应力测量 |
透过独有的光子晶体技术，开发的双折射测量设备，可以在非常快的时间内测量例如手机盖板的内应力的分布情况，针对测量的数据研发人员可以更好的找到产品的缺陷，从而改进工艺。
光子晶体
简单的来说就是偏光片的组合阵列，每一个小偏光片的大小是5um×5um，在整个阵列中又分为很多偏光组，每一组由四个不同偏光角度的偏光片组成。
偏光影像传感器
将光子晶体和CCD传感器上每一个像素单元一一对应，这样组合的偏光相机，拍摄观测物就可以在极短的时间内的到观测物体的双折射数据。
高效的测量
利用独特的偏光影像传感器再结合相对应的软件系统，测量速度可以达到3秒，测量结果 2D 显示，图像与图表的结合，是使用者更直观的了解观测物的双折射现象。
文献贡献者
VR镜片应力双折解决方案
新一代全检膜厚测量仪ME-210-T
Lasertec共聚焦显微镜在OLED行业的应用
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