椭圆偏光膜厚测量仪(手动)

椭圆偏光膜厚测量仪(手动)

参考价:面议
型号: 1
产地: 日本
品牌: 半球
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产品详情

产品特点:                                                           

400波长以上多通道分光的椭偏仪,高速测量椭圆偏光光谱。

自动变更反射测量角度,可得到更详细的薄膜解析数据。

采用正弦杆自动驱动方式,展现测量角度变更时优异的移动精度。

搭载薄膜分析所需的全角度同时测量功能。

可测量晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。


产品规格:                                                            

样品对应尺寸100×100mm
测量方式偏光片元件回转方式
入射/反射角度范围45~90o
入射/反射角度驱动方式反射角度可自动变更
波长测量范围300~800nm
分光元件Poly-chrometer
尺寸650(H)×400D×560Wmm
重量约50kg


上海瞬渺光电技术有限公司为您提供半球椭圆偏光膜厚测量仪(手动)1,半球1产地为日本,属于其他,除了椭圆偏光膜厚测量仪(手动)的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多其他,瞬渺客服电话,售前、售后均可联系。

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