日本力世科（RHESCN)薄膜吸附强度测试仪CSR-2000

日本力世科（RHESCN)薄膜吸附强度测试仪CSR-2000

参考价：面议
型号： CSR-2000
产地： 日本
品牌： 力世科
评分：
上海洛丰精密检测仪器有限公司
关注展位 全部仪器
产品详情

日本力世科（RHESCN)薄膜吸附强度测试仪CSR-2000

CSR-2000仪器简介：

基于JIS R-3255标准，以MICO SCRARCH法评价光学薄膜、半导体扩散工程、表面改质以及记忆媒体等各种用途的薄膜与基材，或薄膜与界面之间的密着力（附着强度）的超薄膜附着强度测试仪，CSR-2000是成膜研究与测试所必备的测试仪器。

原子化（分子化）的膜材料到达基材表面成型时，与基材表面原子的结合数会直接影响膜的密着强度。这个结合数受分子的能量状态。基板的清洗状态等的影响，在与成膜有关的研究开发管理工程中，可使用本设备进行密着强度的评价。

以往的划痕测试仪，摩擦膜表面造成破坏点时，依靠摩擦力的变化及音响信号等来评价密着强度。但是，膜厚在微米级以下的薄膜的破坏点很难检测出来。为了解决这个问题，采用高感度的能够检测出薄膜破坏的MICO SCRARCH法，测试纳米级别的薄膜的附着强度。

最适合检测液晶显示屏的透明电极膜、光学薄膜，DLC，磁盘的保护膜等的附着强度。

功能特点：

具有直线增加荷重的控制功能，在镜头等的曲面上也能进行精确测试。

可以进行以特定荷重来评价的特定荷重测定。

基于信号的FFT分析功能，高感度进行剥离测试。

测试部位的选定及测试后的划伤观察简单易行。

完成一次测试只需1-2分钟的时间。

与小型硬度计等薄膜物性测试仪相比，能够在普通的操作台上进行测试。

能进行JIS R-3255标准（以剥离为基板的薄膜附着性测试方法）的测试。

技术参数：

荷重检出装置荷重印加范围1mN～1000mN
荷重分辨率0.2mN
允许过负荷300%FS
摩擦力检出装置速度信号输出1mV
频率量程20Hz～10kHz
励振频率45Hz
励振振幅0,5,10,20,40,50,80,100um
触针材质金刚石
触针形状R5，10，15，25，50，100um
Z轴驱动装置驱动分辨率0.5um
驱动速度0.1～10um/sec
X轴驱动装置驱动范围20mm
驱动分辨率0.5um
驱动速度0～20um/sec
Y轴驱动装置驱动范围±6.5mm

 

 

 

上海洛丰精密检测仪器有限公司为您提供日本力世科（RHESCN)薄膜吸附强度测试仪CSR-2000，力世科CSR-2000产地为日本，属于其它表面测试，除了日本力世科（RHESCN)薄膜吸附强度测试仪CSR-2000的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多其它表面测试,上海洛丰客服电话，售前、售后均可联系。

相关产品

上海洛丰精密检测仪器有限公司为您提供日本力世科（RHESCN)薄膜吸附强度测试仪CSR-2000，力世科CSR-2000产地为日本，属于其它表面测试，除了日本力世科（RHESCN)薄膜吸附强度测试仪CSR-2000的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多其它表面测试,上海洛丰客服电话，售前、售后均可联系。
Business information
工商信息 信息已认证
当前位置： 上海洛丰 仪器 日本力世科（RHESCN)薄膜吸附强度测试仪CSR-2000

关注

拨打电话

留言咨询