方案摘要
方案下载| 应用领域 | 半导体 |
| 检测样本 | 集成电路 |
| 检测项目 | |
| 参考标准 | ISO 9001:2008 WITH AS9100C |
易捷测试（GBITEST）整合集成了全球先进的测试仪和探针台设备，推出晶圆级 DC 光电测试解决方案。此成熟的系统集成方案，不仅可以适用于传统的LED 芯片测试，提升其测试效率，还可以应用于新兴的光电探测器芯片的研发和量产。硬件系统优异的机械精度和重复性、超强的抗干扰和屏蔽能力、高分辨率光电性能测试能力，配合自动化测试软件的无缝连接和控制、强大的数据处理能力，直流光电测试系统能让客户快速地获取真实的器件参数，并实现自动化测试，节约时间成本，增加收益。
特点：
集成 Keysight 全系列可编程源表和
MPI 自动探针台 优异的测量精度和可重复度
双面载物台，测试灵活，涵盖大部分光电器件的各种测试项目
多样晶圆固定方案，常规载物台、玻璃底盘、机械边缘加紧， 以适应圆形、易碎、方形等各种晶圆
极高的测试效率、低占地、低成本， 模块化的硬件升级
模块化控制软件、开放式编程环境， 用户可自定义测试流程与数据处理
测试软体
人性化设计，友好界面，操作简单
开放的编程环境，可以定制您的直流光电测试过程和数据处理
模块平台设计，容易升级，灵活配置
支持所有可编程设备轻松接入，可集成仪表覆盖面广
可实现各种光电项目的自动测试 测试结果实时监控，指标分级显示
联络窗口提供持续支持，确保系统安装、交付毫无顾虑
文献贡献者
半导体一体化晶圆级/封装级可靠性测试系统
射频微波前端芯片全自动在片测试和封测解决方案
探针台MPI与4200A-SCS 参数分析仪进行CV测试前校准
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