聚焦离子束(Xe)扫描电镜 FERA -GM

聚焦离子束(Xe)扫描电镜 FERA -GM

参考价:¥300万 - 400万
型号: 聚焦离子束(Xe)扫描电镜 FERA -GM
产地: 捷克
品牌: 泰思肯
评分:
核心参数
关注展位 全部仪器
展位推荐 更多
产品详情

聚焦离子束(Xe)扫描电镜 FERA

GM-2-2.png 

FERA3 GM是一款由计算机完全控制的Xe等离子聚焦离子束(i-FIB)场发射扫描电子显微镜,可选配气体注入系统 (GIS),可在高真空和低真空模式下工作,其具有突出的光学性能、清晰的数字化图像、成熟和用户界面友好的SEM/FIB/GIS操作软件等特点。基于Windows™平台的操作软件提供了简单的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。

· 概述

· 软件标配:
测量
图象处理
3维扫描
硬度测量
多图像校准
对象区域
自动关机时间
公差
编程软件
定位
投影面积
EasySEMTM

选配:
根据实际配置和需求

· 技术规格

· 配件二次电子探头

· 背散射电子探头

· In-Beam SE

· In-Beam BSE

· 探针电流测量

· 压差式防碰撞报警装置

· 可观察样品室内部的红外线摄像头

· TOP-SIMS

· 二次离子探头

· 等,各种配件可供选择

· 图片

· 其他

分析潜力

· 高亮度肖特基发射可获得高分辨率、高电流和低噪声的图像

· 选配的In-Beam二次电子探头可获取超高分辨率图像

· 三透镜大视野观察(Wide Field Optics™)设计提供了多种工作模式和显示模式,体现了TESCAN特有可优化电子束光阑的中间镜设计

· 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪(In-Flight Beam Tracing™)可模拟和进行束斑优化

· 成像速度快

· 低电压下的电子束减速模式(Beam Deceleration Technology – BDT)可获取高分辨率图像 (选配)

· In-Beam背散射电子探头,用于在小工作距离下得BSE图像(选配),甚至适合铁磁性样品

· 全计算机化优中心电动载台设计优化了样品操控

· 完美的几何设计更适合安装能谱仪(EDX)、波谱仪(WDX)、背散射电子衍射仪(EBSD

· 由于使用了强力的涡沦分子泵和干式前置真空泵, 因而可以很快达到电镜的工作真空,电子枪的真空由离子泵维持

· 自动的电子光路设置和合轴

· 网络操作和内置的远程控制/诊断软件

· 3维电子束技术提供实时立体图像

· 在低真空模式下样品室真空可达到500Pa 用于观测不导电样品

· 独特的离子差异泵(2个离子泵)使得离子散射效应超低

· 聚焦离子束镜筒内有马达驱动高重复性光阑转换器

· 聚焦离子束的标配包括了电子束遮没装置和法拉第筒

· 高束流下超高的铣削速度和卓越的性能

· FIB切割、信号采集、3维重构(断层摄影术),3D EBSD3D EBIC与集成3维可视化

· 成熟的SEM/FIB/GIS操作软件,图像采集、存档、处理和分析功能

FERA3配置

FERA3 GMH

是一款完全由计算机控制的Xe等离子聚焦离子束(i-FIB)场发射扫描电子显微镜,可选配气体注入系统(GIS),在高真空模式下工作。

FERA3 GMU

是一款完全由计算机控制的Xe等离子聚焦离子束(i-FIB)场发射扫描电子显微镜,可选配气体注入系统(GIS),可在高真空和低真空模式下工作。



北京亚科晨旭科技有限公司为您提供泰思肯聚焦离子束(Xe)扫描电镜 FERA -GM,泰思肯聚焦离子束(Xe)扫描电镜 FERA -GM产地为捷克,属于进口扫描电镜(SEM),除了聚焦离子束(Xe)扫描电镜 FERA -GM的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多扫描电镜(SEM),ASTchian客服电话400-860-5168转4552,售前、售后均可联系。

相关产品

北京亚科晨旭科技有限公司为您提供泰思肯聚焦离子束(Xe)扫描电镜 FERA -GM,泰思肯聚焦离子束(Xe)扫描电镜 FERA -GM产地为捷克,属于进口扫描电镜(SEM),除了聚焦离子束(Xe)扫描电镜 FERA -GM的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多扫描电镜(SEM),ASTchian客服电话400-860-5168转4552,售前、售后均可联系。
Business information
工商信息 信息已认证
当前位置: ASTchian 仪器 聚焦离子束(Xe)扫描电镜 FERA -GM

关注

拨打电话

留言咨询