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ME-Mapping光谱椭偏仪

参考价：面议

核心参数

创新点

ME-Mapping 光谱椭偏仪是一款可定制化Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，配置全自动Mapping测量模块，通过椭偏参数、透射/反射率等参数的测量，快速实现薄膜全基片膜厚以及光学参数自定义绘制化测量表征和分析。

椭偏在线监测装备

椭偏检测机台

SE-PV光谱椭偏仪（光伏）

产品详情

一、概述

ME-Mapping 光谱椭偏仪是一款可定制化Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，配置全自动Mapping测量模块，通过椭偏参数、透射/反射率等参数的测量，快速实现薄膜全基片膜厚以及光学参数自定义绘制化测量表征和分析。

■ 全基片椭偏绘制化测量解决方案；

■ 支持产品设计以及功能模块定制化，一键绘制测量；

■ 配置Mapping模块，全基片自定义多点定位测量能力；

■ 丰富的数据库和几何结构模型库，保证强大数据分析能力。

二、产品特点

■ 采用氘灯和卤素灯复合光源，光谱覆盖紫外到近红外范围 (193-2500nm)；

■ 高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置，实现Psi/Delta光谱数据高速采集；

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■ 具备全基片自定义多点自动定位测量能力，提供全面膜厚检测分析报告；

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■ 数百种材料数据库、多种算法模型库，涵盖了目前绝大部分的光电材料。

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三、产品应用

ME-Mapping广泛应用OLED，LED，光伏，集成电路等工业应用中,实现大尺寸全基片膜厚、光学常数以及膜厚分布快速测量与表征。

可选配件


真空泵	透射吸附组件

技术参数

武汉颐光科技有限公司为您提供颐光科技ME-Mapping光谱椭偏仪，颐光科技ME-Mapping产地为湖北，属于国产椭偏仪，除了ME-Mapping光谱椭偏仪的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多椭偏仪,颐光科技客服电话400-860-5168转4689，售前、售后均可联系。