型号: | HITACHI SU-3500 |
产地: | 日本 |
品牌: | 日立高新 |
评分: |
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仪器设备型号:日立SU3500
产地:日本
主要技术指标:
二次电子分辨率:3nm(30kv) 7.0nm(3kv)
背散射电子分辨率:4.0nm(30kv) 10.0nm(5kv)
放大倍数:5x ~ 300000x(与样品有关,常规样品20-50000倍)
加速电压:300v~30kv
主要功能:
观测块状金属(不包括磁性材料)、非金属固体材料、纤维、薄膜的表面或断面的微区形貌;该仪器配有二次电子(SE)和背散射电子(BSE)等不同类型探测器可供选择使用,可对各种材料进行高倍观察。
应用领域:
广泛应用于各种材料(陶瓷、半导体、催化剂、地质矿物、高分子和复合材料等)的微观形貌表征。
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