随着我国科技实力的显著提升，分析测试的发展也日新月异，科研及测试机构、人才队伍不断壮大，实验室环境条件大为改善，仪器装备水平迅速提高，科技产出量质齐升，重大成果举世瞩目。为积极推动表面分析科学与应用技术的快速发展，加强同行之间交流合作，展示表面分析技术最新的进展，推动分析测试质量保障体系、数据溯源体系和标准体系的建设，由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会及仪器信息网联合举办的“第十届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会”，将于2023年6月19日举行。
论坛以线上会议形式，通过报告专家与参会者的深入交流，旨在共同提升理论与技术水平, 促进表面分析科学研究队伍的壮大。
我司也受邀参与了汇报，介绍了关于TOF-SIMS最新一代M6表面分析技术和应用进展。ToF-SIMS作为一种特殊的表面分析技术，可以接近无损的获取最表面的元素、同位素、分子等信息，拥有高质量分辨和横向空间分辨的同时，还能对样品进行高纵向空间分辨的深度剖析以及三维分析。本报告主要从ToF-SIMS原理和工作模式、最新一代M6的性能优势和技术特色、可选择的多功能解决方案、材料表征和实际的应用进展等几个方面进行技术分享。
会议的详细情况见链接：https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/bmfx2023/
TOF-SIMS最新一代M6表面分析技术和应用进展介绍回放：https://www.instrument.com.cn/webinar/video_119198.html
欢迎大家关于TOF-SIMS进行交流
关注
Hybrid SIMS：超高质量分辨双分析器融合系统
TOF-SIMS在半导体领域的应用（二）——浅层、薄层、界面的深度分析
TOF-SIMS在半导体器件分析方面的研究进展（一）
表面分析方法：EDX、AES、XPS、TOF-SIMS
相关产品
关注
拨打电话
留言咨询
