激光椭圆仪

激光椭圆仪

参考价:面议
型号: SE 400adv PV
产地: 德国
品牌: 德国SENTECH
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产品详情

1. 产品概述

多角度激光椭偏仪 SE 400adv PV 在 HeNe 激光波长为 632.8 nm 时,在纹理单晶和多晶硅片上提供抗反射单膜的膜厚度和折射率。可更换晶圆支架允许在多晶硅片和碱性纹理单晶硅片上进行测量。

2. 主要功能与优势

粗糙表面分析

高灵敏度和超低噪声检测允许在非理想的、引起杂散光的表面上进行测量,这些表面是纹理化单晶硅和多晶硅太阳能电池的典型特征。

非凡的准确性

由于稳定的激光光源、温度稳定的补偿器设置和超低噪声检测器,SENTECH SE 400adv PV 激光椭偏仪的主要特点是具有非凡的高稳定性和准确性。

精密涂层评估

SENTECH SE 400adv PV激光椭偏仪可以特别分析SiN涂层x、ITO、TiO2和SiO的薄钝化层2和 Al2O3.可以在光滑的基板上分析双层堆叠。

该工具是一款紧凑的仪器,可快速启动和运行。SENTECH易于使用,以配方为导向的软件包括一个全面的预定义应用程序包,可满足生产环境中的研发和质量控制要求。


深圳市矢量科学仪器有限公司为您提供德国SENTECH激光椭圆仪SE 400adv PV,德国SENTECHSE 400adv PV产地为德国,属于激光产品,除了激光椭圆仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多激光产品,客服电话,售前、售后均可联系。

售后服务
  • 产品货期: 60天
  • 培训服务: 安装调试现场免费培训

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