开尔文测控半导体分立器件静态参数测试系统KEW3500（柜机）

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KEW3500测试主机与HCD大电流台选件链接成测试系统，可测试IGBT参数包括了ICES、BVCES、IGESF、IGESR、VGETH、VGEON、VCESAT、ICON、VF、GFS、RCE等全直流参数，所有小电流指标保证1%重复测试精度，大电流指标保证2%以内重复测试精度。阳极可扩展至500A、1000A、1250A、1500A、2500A。

针对目前封装的多单元IGBT特征，根据用户需要提供4/8/20单元扫描测试适配器，从而实现多单元封装器件的一次性全参数测试。

陕西开尔文测控技术有限公司为您提供开尔文测控半导体分立器件静态参数测试系统KEW3500（柜机），开尔文测控KEW3500（柜机）产地为陕西，属于国产半导体器件测试仪器，除了半导体分立器件静态参数测试系统的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多半导体器件测试仪器,开尔文测控客服电话，售前、售后均可联系。

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企业名称: 陕西开尔文测控技术有限公司
企业类型:
信用代码: 91610000054790554Q
成立日期: 2012年10月22日
注册资本: 1000
经营范围: 致力于新型器件（SiC, GaN，石墨烯等）材料分析、元器件检测、可靠性评测、系统功能验证等服务。目前，测试系统及测试技术服务以深入国内大专院校、航天、航空、兵器、中船、电子行业等，尤其是电力设备、电动汽车、轨道交通领域的动力车组和运用大功率半导体器件进行设计、制造等行业，得到了广泛的应用，以产品性价比高、可测器件种类多且参数齐全、测试精度高、速度快、保护性强、故障率低、软件丰富、操作使用方便、售后服务及时周到。同时还承担着同类进口产品的售后维修服务。

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型号：	KEW3500（柜机）
产地：	陕西
品牌：	开尔文测控
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