开尔文测控碳化硅器件测试仪KEW6500_价格-陕西开尔文测控技术有限公司

产品详情

本测试系统具有高测试精度、高灵敏度、高可靠性、高安全性的特点，实现碳化硅二极管、MOSFET器件开通时间、关断时间、快恢复二极管反向恢复时间、反向电流及反向恢复电荷等测试，通过计算机控制，示波器采集波形，由计算机处理数据并显示测试结果。

主要技术参数

测试产品：SiC FRD,MOSFET（兼容Si基产品）

测试能力：

a，开关时间测试

测试条件：ID：1A~1000A, VDS:5V~3500V, VGS:-10V~20V, Rg:手动可调，阻性，感性负载可切换。

测试参数：td(on)\tr\td(off)\tf:0.1nS-200nS, Eon\Eoff:10uJ-100mJ

b，反向恢复特性测试

测试条件：IF:1A~1000A, VR:5V~3500V,di\dt:50A\us~10000A\us

测试参数：trr:0.1nS-200nS,Qc:1nC~1uC,lrm:1A~200A,Erec:0.1uJ~1mJ

c，短路电流测试

测试条件：Pulse width:1us~100us,VDS:5V~3500V

测试参数：Peak ID:10A~1000A, Delta Vds:10V~200V

陕西开尔文测控技术有限公司为您提供开尔文测控碳化硅器件测试仪KEW6500，开尔文测控KEW6500产地为陕西，属于其他，除了碳化硅器件测试仪的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多其他,开尔文测控客服电话，售前、售后均可联系。

Business information

工商信息

信息已认证

企业名称: 陕西开尔文测控技术有限公司
企业类型:
信用代码: 91610000054790554Q
成立日期: 2012年10月22日
注册资本: 1000
经营范围: 致力于新型器件（SiC, GaN，石墨烯等）材料分析、元器件检测、可靠性评测、系统功能验证等服务。目前，测试系统及测试技术服务以深入国内大专院校、航天、航空、兵器、中船、电子行业等，尤其是电力设备、电动汽车、轨道交通领域的动力车组和运用大功率半导体器件进行设计、制造等行业，得到了广泛的应用，以产品性价比高、可测器件种类多且参数齐全、测试精度高、速度快、保护性强、故障率低、软件丰富、操作使用方便、售后服务及时周到。同时还承担着同类进口产品的售后维修服务。

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