| 型号： | KEW6500（1） |
| 产地： | 陕西 |
| 品牌： | 开尔文测控 |
| 评分： |
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适用于SiCFRD,MOSFET(兼容Si基产品)、IGBT模块、 MOS管(兼容Si基产品)等器件的时间参数测试，是目前国内动态参数测试功能最齐全、性能最先进的测试系统。
测试能力：
IGBT开关时间测试
测试条件： ID：1A～200A, VDS：5V～3500V, VGS：-10V～20V, Rg：1R～100R 可调(可选择4挡和外接)
负载：阻性，感性负载可切换。
电感范围：100uH，200uH，500uH，1000uH
电阻范围：0.5R、1R、2R、4R
测试参数:
开通延迟td(on)：20Ns – 10uS
关断延迟时间td（off）：20Ns – 10uS、
上升时间tr：20Ns – 10uS
下降时间tf：20Ns – 10uS
开通能量Eon：0.1～1000mJ
关断能量Eoff：0.1～1000mJ
二极管反向恢复特性测试
测试条件：IF：1A～200A
反向电流VR：5V～3500V
di/dt：100A/us～10000A/us
负载：感性负载可选
电感范围：100uH、200 uH、500 uH、1000 uH
测试参数: trr：0.1nS -200nS
Qc：1nC~100uC
Irm：1A~200A
Erec：0.1uJ～1mJ
栅极电荷测试
测试条件： VDS：5V～3500V
ID：1A～200A
VGS：-10V～20V
测试参数：
Qgon、Qgd、Qgs：1nC~100uC
Vpl：-10V～20V
短路电流测试
测试条件：Pulse width：1us～100us, VDS：5V～3500V
测试参数： Peak ID：10A~1000A, Delta Vds：10V~200V
控制界面：上位机使用Labview界面开发，该程序体现为人机交互界面，作为测试平台的交互系统，通过与示波器、主控板等设备通讯，实现对设备的自动远程操作并指示示波器进行数据采集、在界面上复现示波器的测试波形、并对测试波形进行分析、计算，最终得到结果进行显示和存储。
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