型号: | SDD探测器 |
产地: | 德国 |
品牌: | |
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应用方向:X射线谱分析、 X射线成像、电子探测、空间物理研究
主要技术参数:
有效探测面积:5mm2/10mm2/20mm2/30mm2/60mm2/100mm2/200mm2/300mm2
能量分辨率:122~132eV@Mn_K;36~68eV@C_K
峰背比:7000~15000
窗口类型:无窗、超薄窗、薄窗、铍窗,多种窗口类型可选
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