1/1

薄膜厚度测量仪

报价 面议

品牌

科美仪器

型号

ST4000-DLX

产地

亚洲韩国

应用领域

暂无
该产品已下架

进口

仪器简介:

1996年以来,科美在半导体,平板显示器,电子物质,生命科学和化学分析上,研发和提供了独特的,先进的解决方案。科美,作为测量和分析技术市场上的领头和动力,以它突出的表现得到了世界范围的认可。



技术参数:

活动范围 200mm x 200mm(8"), 300mm x 300mm(12")
测量范围 100Å~ 35㎛(Depends on Film Type)
光斑尺寸 40㎛/20㎛, 4㎛(option)
测量速度 1~2 sec./site
应用领域 All Capability of ST2000 & More Precision Measurement
Intended for Wafer Measurement & OLED
选项 Programmable Auto Z Stage
参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
焦点 Coaxial Coarse and Fine Focus Controls
附带照明 12v 100W Halogen Lamp



主要特点:

尺寸 500 x 610 x 640 mm
重量 45Kg
类型 手动的
测量样本大小 ≤ 8", 12"
测量方法 无连接的
测量原理 反射计
特点

测量迅速,操作简单
非接触式,非破坏方式
Print Function of Each View & Data Saving

查看全部
发布心得活动

暂无评论,点击发布评论

  • 相关仪器
薄膜厚度测量仪信息由北京三尼阳光科技发展有限公司为您提供,如您想了解更多关于薄膜厚度测量仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

相关产品