ST4000光学薄膜测厚仪
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ST4000光学薄膜测厚仪

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品牌

科美仪器

型号

ST4000-DLX

产地

亚洲韩国

应用领域

暂无
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微纳立方科技(北京)有限公司

营业执照已认证

  • 银牌会员
  • 第20年
  • 一般经销商
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产品简介：

  • 标准模式
  • 工业规格
  • 适合科研中心 

 

 尺寸  500 x 610 x 640 mm
 重量  45Kg
 类型  手动的
 测量样本大小  ≤ 8", 12"
 测量方法  无连接的
 测量原理  反射计
 特点
测量迅速，操作简单
非接触式，非破坏方式
Print Function of Each View & Data Saving
 活动范围  200mm x 200mm(8"), 300mm x 300mm(12")
 测量范围  100Å~ 35㎛(Depends on Film Type)
 光斑尺寸  40㎛/20㎛, 4㎛(option)
 测量速度  1~2 sec./site
 应用领域  All Capability of ST2000 & More Precision Measurement
 Intended for Wafer Measurement & OLED
 选项
 Programmable Auto Z Stage
 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
 焦点  Coaxial Coarse and Fine Focus Controls
 附带照明  12v 100W Halogen Lamp
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