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离子减薄仪主要适用于金属、陶瓷及半导体等固体材料的TEM样品的减
薄与抛光。离子减薄仪为整套TEM样品制备的最后一道工序，经氩离子
减薄的样品可在TEM下直接观察。
主要特点：
1.试样台为薄轴承结构；
2.监视系统采用聚光光源；
3.观察系统设计有了防污染系统；
4.结构紧凑、体积小，有防误操作系统；
5.适用性广泛，可制备金属、非金属、陶瓷、矿物、半导体、骨、牙
齿等几乎所有固体材料。
技术参数：
加速电压： 0-10KV连续可调
最大束流密度：大于200μA/cm
减薄速度(铜) ：30μ/h（最大）
离子束倾角： 5-90°（普通台）
0-90°（精细抛光台）
真空度 ：5×10-3Pa（不送气）
离子束对样品 的最小倾角 ：7°（普通试样台）
2°（抛光试样台）
离子减薄仪信息由北京中镜科仪技术有限公司为您提供，如您想了解更多关于离子减薄仪报价、型号、参数等信息，中镜科仪客服电话：400-860-5168转1115，欢迎来电或留言咨询。
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