冷场发射球差校正透射电镜

报价 $600万

品牌

日本电子

型号

JEM-ARM200F(C)-NEO ARM

产地

亚洲日本

应用领域

共1个

场发射

STEM图像:0.071nm(有球差校正)

30,80,200kV

50X-2,000,000

日本电子株式会社2010年7月最新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。

传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社最新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到最新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大增强了原子级观察和原子级分析能力。

在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美国的Brookheaven国家实验室;欧洲各国;日本的东京大学、东北大学、名古屋大学、九州大学等;中国台湾的清华大学也开始纷纷采购这一设备。


从2009年开始,中国先后购买了JEM-ARM200F进二十台,针对不同研究领域选用了不同配置。2017年6月日本电子株式会社推出了最新款的NEO ARM,采用自动球差校正软件、且低压下的分辨能力超强,适用范围进一步扩大,为材料科学研究提供了一个更全面分分析平台。

典型用户
用户单位 采购时间
三星(西安) 2013-11-01
北京化工大学 2014-06-09
中国石化石油化工科学研究院 2013-03-20
上海交通大学 2011-12-01
中国科学院物理研究所 2011-07-31
推荐品牌
冷场发射球差校正透射电镜信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供,如您想了解更多关于冷场发射球差校正透射电镜报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

相关产品