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美国MICRO CONTROL COMPANY老化测试机、老化测试板
MICRO CONTROL COMPANY是世界领先的老化测试设备制造商。成立于1972年的MCC公司为高功率老化测试提供独立温控方案和为逻辑/存储器芯片提供老化测试方案。集成电路老化测试载板的设计以及制作，为不同用户提供集成电路老化测试整体解决方案，满足不同用户的低、中和高功率测试要求。
MCC系统特性：MCC特有的高功率老化测试系统，满足不同用户的逻辑以及存储器测试要求
LC-2 高性能低成本老化测试系统
• 12.5” x 24” or 317mm x 609mm老化板，可同时放入64块
• 每板功率或电流可达400W or 240A
• 128个独立I/O，多达4M矢量深度(可升级)，10 ns clock resolution，200 Mhz high speed clock
• 单颗最大功率20W,同时测试1536颗
MCC特有的独立温控技术（Individual Chip Temperature Control）
1、为所有集成电路提供最适宜的老化测试温度
2、为所有老化测试中的集成电路提供精确的电压等级和工作功率
3、实时监控每个老化测试集成电路的实际温度和实际消耗功率
4、老化测试中，能够提供最精确汇合温度的唯一工具
MCC独立温控系统通过空气阀 (冷却) 和 Heat-sink加热器 (加热) 机构实现待测产品的独立温控
1年
否
无
1次免费培训
可协商
保内免费维修
3个工作日
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