晶圆/硅片划遗线检测/统计Slip Finder
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晶圆/硅片划遗线检测/统计slip finder广泛应用于各大半导体FAB，主要用于如下一些热处理工艺后的晶圆/硅片：
Polishing, Epitaxy, RTP, Diffusion, Incoming Inspection, SOI, Anneal
部分客户参考如下：
国内主要大客户有如：中芯国际，先进半导体，华宏半导体，成都德州仪器等等。
MEMC
S.E.H
SUMCO
IBM
KOMATSU
LG
OKMETIC
MAXIM
PHILIPS
MOTOROLA
DISCO
MITSUBISHI
TOSHIBA
SAMSUNG
SONY
ST MICRO
TEXAS INSTRUMENTS
HITACHI
IBIS
...
中国地区销售服务商
美国赛伦科技上海办事处
吴惟雨
售后服务
根据合约
是
无
根据合约
根据合约
根据合约
根据合约
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