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晶圆检测系统(Wafer Inspection Systems)
成立于一九八九年，C & D Semiconductor Services,Inc.一直致力于服务全球半导体及有关工业。C & D 的服务范围服务涵盖了晶圆处理、加工、半导体制造和检验的要求，为客户提供创新、高价值、低成本尖端技术的解决方案。
V1000 显微镜加载器
兼容大多数显微镜和载物台
程序驱动操作，实现晶圆加载和检测工艺自动化
可选双尺寸兼容配置/晶圆对准/符合人体工程学的卡盒装载设计
V2000 亮光检查系统
双片盒设计，三维倾斜旋转卡盘及光控检测罩为缺陷检测提供良好的测量环境
可选双尺寸兼容配置/晶圆对准/符合人体工程学的卡盒装载设计
详情V2000产品特性,请点此连接.....
V3000 宏观缺陷审查系统
高级芯片检测站，适合晶圆尺寸：50mm - 200mm
最大可配置6种光源，用宏观缺陷检测
正面及反面缺陷检测功能
晶圆对准/OCR/条码读取功能
晶圆检测系统信息由香港电子器材有限公司为您提供，如您想了解更多关于晶圆检测系统报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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