仪器简介:操作模式
大气环境中:
STM/ STS/ AFM (接触+ 非接触 + 半接触)/侧向力模式/ 相位成像/ 力调制模式/ 扩散电阻成像/ MFM/ EFM/ SCM/开尔文模式/ 粘滞力成像/ AFAM/ AFM 刻蚀: 力 (刮刻 + 动态挖刻), 电流 (局域阳极氧化), STM
液体环境中:
AFM (接触+ 半接触)/ 侧向力模式/相位成像/力调制模式/粘滞力成像/ AFM 刻蚀
应用领域:
新材料
薄膜材料
聚合物
半导体
生物样品
可在大气中、气体和液体环境下用于任何需要原子级和分子级分辨率的应用领域,以及对加热过程中样品表面结构的变化进行现场检测。
技术参数:
参数 扫描方式
样品扫描式 针尖扫描式
样品尺寸 直径可达40x40x10 mm 可达100x100x20 mm
用于液体槽直径可达 采用独立的测量头部
12x12x2 mm 则无限制
扫描器 3x3x2.6 um (±10%); 50x50x5 um (±10%);
10x10x4 um (±10%), 100x100x7 um (±10%);
50x50x5 um (±10%) 100x100x10 um (±10%)
扫描器最小 0.0004 nm; 0.006 nm;
步进量(DAC) 0.0011 nm; 0.012 nm;
0.006 nm 0.012 nm
SPM头部 AFM AFM
STM: 30 pA-50 nA, RMS噪音:4 pA 剪切力模式
(标准前置放大器);
10 pA-5 nA, PMS 噪音1.5 pA
(低电流前置放大器)
光学观察系统
分辨率 1 um
数值孔径 0.28
CCD 230x~2900x
水平视野 1.2 ~0.1 mm
XY样品定位 5x5 mm
定位精度 5 um
加热 130°C
震动隔离系统 主动式:阻尼 (0.6-100 Hz),
被动式:阻尼>100 Hz
特殊的铸态金属罩提供电屏蔽和声学隔振
主要特点:Solver PRO-M是一套功能强大、设计精良的科研型扫描探针显微镜,适用于绝大部分科研领域。众多的卓越特性使Solver PRO-M独一无二,如:功能强大的电子学控制系统、精确测量探针运动的能力、使用方便的光学观察系统等等。
Solver PRO-M使用新一代的电子学控制箱。该控制箱吸收了当代电子科技领域的众多优秀成果。一流的模块化结构、新颖的设计解决方案,以及来自世界上最著名半导体公司的电子学元器件,大大提升了仪器的性能。
特点
*工作频率最高达5MHz的Solver PRO-M新型控制箱,使得仪器可方便的使用高共振频率的悬臂,从而使成像质量更加完美。
*同时,这种高频信号的处理能力对实现超声原子力显微镜(AFAM)具有非常重要的意义。AFAM成像技术是NT-MDT公司独有的一种技术,它可以用来测量样品局域的硬度。
*新的控制箱还可以通过电容传感器构成闭环扫描控制,从而实现精确扫描。