操作模式
在空气中:STM/低电流STM/扫描隧道谱/接触式 AFM/侧向力模式/振动模式(半接触 AFM+非接触AFM)/相位成像模式/力调制模式/扩展电阻成像/磁力显微镜/静电力显微镜/扫描电容显微镜/扫描开尔文探针显微镜/粘附力成像/剪切力成像/刻蚀:AFM(力和电压),STM,RM
在液体中:接触式AFM/侧向力成像模式/力调制模式/粘附力成像模式/半接触式 (扫描器驱动)AFM/AFM (力)刻蚀
应用
材料科学
纳米计量学
谱学
医学
生物学
半导体
薄膜和数据存储
样品尺寸 40x40x10mm
扫描器 3x3x1um ( ± 10%);
10x10x2um( ± 10%);
50x50x3 um ( ± 10%)
最小扫描步长 0.0004 nm; 0.0011 nm; 0.006 nm
扫描类型 样品扫描式
SPM头部
AFM
STM: 30pA - 50nA, 4 p时的ARMS 噪音 (标准的前置放大器),
10pA - 5nA, 1.5 p时的ARMS噪音 (低电流前置放大器)
剪切力
光学观察系统
数值孔径 0.1
放大倍数58x to 578x
水平视野 5.1~ 0.51mm
控制系统:SPM Controller
振动隔离系统:集成有被动隔离系统,如果需要也可用主动隔离系统
Solver P47-PRO SPM 是一种可以在空气、液体和室温~ 130°C 的可控气氛下对不同的样品进行高精度综合分析的通用仪器。此型号不仅适合小公司或学校的试验室使用,同样适合大的研究中心使用。其现代化的设计提供了最高的测量精度和大量的SPM技术。
该型号仪器现已装备到全世界600多个实验室,其中中国大陆正在使用的用户达40多个。使用该仪器公开发表的学术论文请参考:http://www.ntmdt.com/Publications/Search?action=SEARCH&ProductItemID=12
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