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布鲁克扫描探针显微镜
MultiMode平台是世界上应用最广泛的扫描探针显微镜（SPM），已经在全球成功安装使用了近万套。它的成功基于其领先的高分辨率和高性能，无与伦比的多功能性，以及已经得到充分证实的效率和可靠性。现在，MultiMode扫描探针显微镜以其独特的ScanAsyst模式，采用其先进的自动图像优化技术，使得用户无论具备什么技能水平，也能在材料科学，生命科学，聚合物研究领域的研究中最迅速地获得符合要求的研究成果。
显微镜：多种可选Multimode SPM扫描头
◆ AS-0.5系列：横向(X-Y)范围0.4μm×0.4μm,竖直(Z)范围0.4μm
◆ AS-12系列：横向(X-Y)范围10μm×10μm,竖直(Z)范围2.5μm
◆ AS-130系列：横向(X-Y)范围125μm×125μm,竖直(Z)范围5.0μm
◆ PF50：横向(X-Y)范围40μm×40μm,竖直(Z)范围20μm
噪声：垂直(Z)方向上的RMS值＜0.3埃（带防震系统的测量值）
样品大小：直径≤15mm, 厚度≤5mm
针尖/悬臂支架：
◆空气中轻敲模式/接触模式(标准)
◆液体中轻敲模式/力调制(可选)
◆空气中力调制(可选)；电场模式(可选)
◆扫描热(可选-需要大的光学头或者外加的应用组件)
◆ STM转换器(可选)
◆低电流STM转换器(可选)；接触模式液体池(可选)
主要特点：
◆ 世界上最高的分辨率
◆ 出众的扫描能力
◆ 优异的可操作性
◆ 非凡的灵活性与功能性
无限的应用扩展性Multimode可以实现全面的SPM表面表征技术，包括：
◆ 轻敲模式(Tapping Mode AFM)
◆ 接触模式(Contact Mode AFM)
◆ 自动成像模式(ScanAsyst)
◆ 相位成像模式(Phase Imaging)
◆ 横向力术模式(laterial Force Microscopy, LFM)
◆ 磁场力显微术(Magnetic Force Microscopy, MFM)
◆ 扫描隧道显微术(Scanning Tunneling Microscopy, STM)
◆ 力调制(Force Modulation)
◆ 电场力显微术(Electric Force Microscopy, EFM)
◆ 扫描电容扫描术(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM)
◆ 表面电势显微术(Surface Potential Microscopy)
◆ 力曲线和力阵列测量(Force-Distance and Force Volume Measurement)
◆ 纳米压痕/划痕(Nanoindenting/Scratching)
◆ 电化学显微术(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM)
◆ 皮牛力谱(PicoForce Force Spectroscopy)
◆ 隧道原子力显微术(Tunneling AFM, TUNA)
◆ 导电原子力显微术(Conductive AFM, CAFM)
◆ 扫描扩散电阻显微术(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM)
◆ 扭转共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode)
◆ 压电响应模式(Piezo Respnance mode, PR mode)
◆ 其他更多模式....
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