Batop太赫兹时域光谱仪THz-TDS
产品描述:
BATOP成立于2003年,是一家隶属于德国耶拿大学的私人创新型公司。公司配备了来自于实验室领域的专业化技术开发和生产设计团队,使得其公司产品具有超高的品质和具有竞争力的价格。在过去几年里,BATOP一直致力于太赫兹光电导天线(PCA)和 太赫兹时域光谱仪系统(THz-TDS)的研发。BATOP不仅提供单带隙天线,还包括整合了微透镜的高能大狭缝交叉天线阵列。BATOP自主研发的太赫兹时域光谱仪性能稳定,各项参数优秀,功能多样:可实现快速扫描、配合外置的光纤耦合天线实现角度扫描、成像等功能。 BATOP借助强大的研发能力来不断提高自己的产品, 其研发设计理念始终从客户的角度出发,最好的满足他们的需求。
实测THz信号:
产品特性:
◆ 内置样品仓,可充氮气进行透反射测量
◆ 规格多样的外置光纤耦合天线可选
◆ 外置角度扫描装置可选
◆ 外置成像模块可选
◆ T3DS软件支持
TDS10XX各型号参数规格:
型号 | TDS1008 | TDS1010 | TDS1015 |
光谱范围 | 0.05 – 4 THz | 0.05 – 2.5 THz | 0.05 – 2 THz |
动态范围 | > 75 dB | > 60 dB | > 50 dB |
扫描范围(频谱分辨率) | 500 ps (2 GHz resolution) | ||
太赫兹光束直径 | 22 mm (准直) / 1-3 mm (聚焦) | ||
仪器尺寸(cm3) | 90×60×30 | 60×60×30 | 60×60×30 |
TDS10XX可选配件:
快速扫描模块 FSU 光纤耦合天线对 2FCA 角度扫描模块 T2T
成像模块 IU (电机行程可选375px、750px 、1125px) 透射样品架 SHT(放在样品仓内,用于透射谱测试)
反射样品架 SHR 光纤耦合天线架 SHF(可测试透射反射谱) 衰减全反射架 SHA(衰减全反射ATR测试)
2欧元硬币成像:
安装现场:
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