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基于Cochois体系制造的X射线波长色散分析仪是专为测定矿石、岩石中U, Th, Mo, Au, W, Tl, As, Pb等元素而设计的
。
分析仪的操作原理是初级X射线照射待测样品，激发各化学元素发出二次X荧光，用分光晶体将荧光光束发散后，它们依次是由x射线辐射探测器记录，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。
独特的应用范围：
地质学和采矿业，测定岩石和矿石的成分及浓度
环境保护，测定土壤、沉积物和岩石中含量在10-4 %数量级的Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Rb、Sr、Ba、Pb元素的具体含量。
岩石中的核燃料铀和钍元素含量的测定，浓度测定范围在10-4 %以上。
高辨率短波长的X射线衍射(40 eV)
检测下限1.5 ppm
技术参数：
元素可检范围 | 27Co - 92U 27Co - 58Ce, K-series 73Ta - 92U, L-series |
光谱分辨率（半宽线的U La 1）,小于,eV | 40 |
浓度检测范围,ppm | 3- 50000 |
基本相对误差,% | ±0.5 |
92U 100秒内的最大检测限,ppm | 1.5 |
同时载样个数 | 30 |
电源,kWA | 4.6 |
体积 | 1300х1150х850 |
设备重量，kg | 400 |
消耗功率，VA | 500 |
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